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    本發明提供一種電腦主機板測試裝置，用於測試電腦主機板。電腦主機板包括CPU及複數記憶體通道。每記憶體通道包括複數容置記憶體的插槽。電腦主機板測試裝置包括複數記憶體、開關晶片、微控制器及測試模組。開關晶片包括與插槽連接的輸入引腳、與CPU連接的輸出引腳及一控制引腳。微控制器存儲插槽的複數種組合方式，還通過控制引腳向開關晶片輸控制指令，分別控制每種組合方式的插槽與CPU連通，其他插槽與CPU斷開。測試模組判斷每組合方式中，CPU能否控制記憶體在正確工作模式工作。本發明還涉及一種電腦主機板測試方法。
    公开号:TW201312341A
    申请号:TW100133266
    申请日:2011-09-15
    公开日:2013-03-16
    发明作者:Yi-Tsang Hsieh；Yung-Po Chang
    申请人:Hon Hai Prec Ind Co Ltd；
    IPC主号:G06F11-00
    专利说明:
    電腦主機板測試裝置及測試方法
    本發明涉及一種電腦主機板測試裝置及測試方法。
    由於電腦主機板包括複數記憶體通道，每個記憶體通道內均包括複數用於插設記憶體的插槽，那麼不同記憶體通道的插槽之間，及同一記憶體通道內的插槽之間的組合方式就有複數種。記憶體有複數種工作模式，每一工作模式與相應的組合方式一一對應，且記憶體插設在不同組合方式的插槽內時的工作模式不同。在電腦主機板的生產過程中，需要針對記憶體插在每一種組合方式下的插槽中時，測試CPU能否控制插在該種組合方式下的插槽中對應的記憶體在與該種組合方式對應的工作模式下工作。目前的做法是操作員手工地在將記憶體插在每種組合方式下的插槽中並開機測試，完成一種測試後，再手工地將記憶體從插槽中拔出來，再進行下一種組合方式的測試。依次類推，直至插槽的所有組合方式都被測試完成。由於記憶體需要經過複數次插拔，比較耗費時間，導致生產效率比較低。
    有鑒於此，有必要提供一種可有效提高生產效率的電腦主機板測試裝置及測試方法。
    一種電腦主機板測試裝置，用於測試一電腦主機板是否能正常工作。所述電腦主機板包括複數記憶體通道及一CPU。每個記憶體通道包括複數用於插設記憶體的插槽。所述電腦主機板測試裝置包括複數記憶體、至少一開關晶片、一微控制器及一測試模組。每個記憶體插設在對應的插槽內。所述至少一開關晶片包括複數輸入引腳、複數與所述輸入引腳一一對應的輸出引腳及一控制引腳。所述複數插槽分別與對應的一輸入引腳電連接，所述複數輸出引腳同時與所述CPU電連接。所述微控制器用於存儲所述插槽的複數種組合方式，並給每種組合方式一序列號，所述微控制器還根據所述序列號的順序，通過所述控制引腳向所述至少一開關晶片輸入控制指令，以依次控制當前序列號對應的插槽組合方式中的插槽與所述CPU連通，其他的插槽與所述CPU斷開。所述測試模組用於測試所述CPU是否能正常工作，並輸出測試結果。
    一種使用如上述電腦主機板測試裝置的電腦主機板測試方法，其包括如下步驟：提供一電腦主機板，所述電腦主機板包括複數記憶體通道及一CPU，每個記憶體通道包括複數用於插設記憶體的插槽，所述CPU用於控制所述複數插槽內的記憶體在正確的工作模式下工作；所述微控制器將所述複數插槽進行組合，以獲得複數種插槽的組合方式，並給每種組合方式編序列號；在每個插槽內均插入一記憶體；所述微控制器按照該序列號的順序輸出訊號給所述至少一開關晶片，以依照該序列號對應的插槽的組合方式，控制所述複數插槽與所述CPU的通斷，所述測試模組判斷插槽的每種組合方式時，所述CPU能否控制與所述CPU電連接的記憶體在正確的工作模式下工作；若是，則判斷所述電腦主機板為良品；若其中有一種插槽的組合方式中，所述CPU不能控制與所述CPU電連接的記憶體在正確的工作模式下工作，則判斷所述電腦主機板為不良品。
    相較於先前技術，本發明的電腦主機板測試裝置及測試方法，不需要將記憶體進行複數次插拔，節省了工作時間，從而有效提高工作效率。
    下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。
    請參閱圖1，為本發明實施方式提供的一種電腦主機板測試裝置100，用於測試一電腦主機板200是否能正常工作。所述電腦主機板200包括複數記憶體通道210及一CPU250。每個記憶體通道210包括複數用於插設記憶體的插槽211。所述插槽211的複數種組合方式包括將每個記憶體通道210內的插槽211與其他記憶體通道210內的插槽211分別進行組合，並將每個記憶體通道210的複數插槽210進行分別組合。在本實施方式中，所述記憶體通道210的數量為兩個，每個記憶體通道210內的插槽211的數量為兩個，則一共有=15種插槽的組合方式。所述記憶體通道210及每個記憶體通道210內插槽211的數量並不局限於本實施方式。對應於不同的插槽組合方式，當記憶體插入對應的插槽內時，存儲器具有不同的工作模式。所述記憶體的工作模式是指記憶體存放資料的方式，比如Lockstep模式、Mirror模式、sparing模式等。所述CPU250用於控制所述記憶體在正確的工作模式下工作。
    所述電腦主機板測試裝置100用於測試針對每一種工作模式，所述CPU250是否能正常工作。所述電腦主機板測試裝置100包括複數記憶體110、一開關晶片130、一微控制器150、一測試模組170及一報警模組190。所述複數記憶體110分別插設在所述複數插槽211內。所述記憶體110的數量等於所述插槽211的數量。
    所述開關晶片130包括複數輸入引腳131、複數與所述輸入引腳131一一對應的輸出引腳132及一控制引腳133。所述複數插槽211分別與對應的一輸入引腳131電連接，所述複數輸出引腳132同時與所述CPU250電連接。所述微控制器150用於存儲所述插槽211的所有組合方式，並給每種組合方式編序列號。所述微控制器150還根據所述序列號的順序，依次控制序列號對應的插槽組合方式中的插槽與所述CPU250連通，其他的插槽與所述CPU250斷開。具體的，如果一種組合方式內包括某一插槽，則微控制器150控制對應的輸入引腳131與輸出引腳132導通；如果一種組合方式內不包括某一插槽，則微控制器150控制對應的輸入引腳131與輸出引腳132斷開。所述微控制器150還用於控制所述電腦主機板200的開機或關機。在本實施方式中，所述開關晶片130為BMC (Baseboard Management Controller)晶片，且型號為PCA9517ADP。
    所述測試模組170與所述CPU250電連接，通過測試所述CPU250傳遞給所述開關晶片130的訊號，從而得出所述CPU250能否控制對應的記憶體110在正確的工作模式下工作，進而判斷所述電腦主機板200是否為良品，同時還輸出一測試結果的訊號給所述報警模組190。所述測試模組170可以運行各種現有的記憶體配置測試程式，在本實施方式中，所述測試模組170內運行的是DELL公司開發的記憶體配置測試程式。
    所述報警模組190用於在所述測試模組170判斷出所述電腦主機板200為不良品時，發生警示訊號。在本實施方式中，所述報警模組190為蜂鳴器。在其他實施方式中，所述報警模組190也可為顯示幕、發光二極體等。
    可以理解，在其他實施方式中，所述開關晶片130的數量並不局限於本實施方式，比如也可為兩個或兩個以上的開關晶片130，此時，所述微控制器150要同時與每個開關晶片130的控制引腳電連接，並按照需求給每個控制引腳133輸出控制指令。
    結合如圖2及圖3所示，本發明實施方式提供的一種電腦主機板測試方法包括如下步驟：
    S1：提供一電腦主機板測試裝置100及一電腦主機板200。具體的，所述電腦主機板測試裝置100包括複數記憶體110、一開關晶片130、一微控制器150、一測試模組170及一報警模組190。所述電腦主機板200包括複數記憶體通道210及一CPU250。每個記憶體通道210包括複數插槽211。
    S2：所述微控制器150將每個記憶體通道210內的插槽211與其他記憶體通道210內的插槽211分別進行組合，並將每個記憶體通道210的複數插槽211進行分別組合，以獲得複數種插槽211的組合方式，並給每種組合方式一序列號。
    S3：將每個插槽211內均插入一記憶體110。在其他實施方式中，步驟S2與步驟S3也可以顛倒順序。
    S4：所述微控制器150按照序列號的順序輸出訊號給所述開關晶片130，以依照序列號對應的插槽211的組合方式，控制所述複數插槽211與所述CPU250的通斷，所述測試模組170測試插槽211的每種組合方式時，所述CPU是否都能正常工作；若是，則判斷所述電腦主機板為良品；若其中有一種組合方式時，所述CPU不能正常工作，則判斷所述電腦主機板為不良品。
    具體的，步驟S4包括如下子步驟：
    S41：在對某一種插槽的組合方式進行測試時，所述微控制器150根據預先編排好的插槽的組合關係控制所述開關晶片130將特定的插槽211與所述CPU250連接，並將其他插槽211與所述CPU250斷開。此時由於所述CPU250偵測不到所述被斷開的插槽211內的記憶體110的訊號，因此會認為所述被斷開的插槽211內並未插入所述記憶體110。
    S42：所述微控制器150將電腦主機板200關機，然後重新啟動。
    S43：所述測試模組170測試所述CPU250傳遞給所述開關晶片130的訊號，得出所述CPU250是否能控制與所述CPU250電連接的記憶體110在正確的工作模式下工作，即所述CPU250是否能正常工作。
    S44：若是，則轉入步驟S41，進行下一插槽的組合方式的測試，直至對所有插槽的組合方式都完成測試。
    S45：若否，則所述測試模組170發出一不良品的訊號給所述報警模組190，所述報警模組190進行報警，測試終止。
    相較於先前技術，本發明的電腦主機板測試裝置及測試方法，通過在每個插槽內均插入記憶體，所述開關晶片控制所述複數插槽的記憶體與所述CPU之間的通斷，以模擬先前技術中將記憶體從插槽內插入拔出的情形，因此不需要將記憶體進行複數次插拔，節省工作時間，提高了工作效率，同時不需要人工的參與，節省了人力成本；而且還可有效降低記憶體的金手指的磨損。
    綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
    100．．．電腦主機板測試裝置
    200．．．電腦主機板
    210．．．記憶體通道
    211．．．插槽
    250．．．CPU
    110．．．記憶體
    130．．．開關晶片
    131．．．輸入引腳
    132．．．輸出引腳
    133．．．控制引腳
    150．．．微控制器
    170．．．測試模組
    190．．．報警模組
    圖1係本發明較佳實施方式的電腦主機板測試裝置及電腦主機板的示意圖。
    圖2係本發明較佳實施方式的電腦主機板測試方法的流程圖。
    圖3係圖2的電腦主機板測試方法中步驟S4的子流程圖。
    100．．．電腦主機板測試裝置
    200．．．電腦主機板
    210．．．記憶體通道
    211．．．插槽
    250．．．CPU
    110．．．記憶體
    130．．．開關晶片
    131．．．輸入引腳
    132．．．輸出引腳
    133．．．控制引腳
    150．．．微控制器
    170．．．測試模組
    190．．．報警模組
    权利要求:
    Claims (10)
    [1] 一種電腦主機板測試裝置，用於測試一電腦主機板是否能正常工作；所述電腦主機板包括複數記憶體通道及一CPU；每個記憶體通道包括複數插槽；其改進在於，所述電腦主機板測試裝置包括複數記憶體、至少一開關晶片、一微控制器及一測試模組；每個記憶體插設在對應的插槽內；所述至少一開關晶片包括複數輸入引腳、複數與所述輸入引腳一一對應的輸出引腳及一控制引腳；每個輸入引腳用於與對應的插槽電連接，所述複數輸出引腳用於與所述CPU電連接；所述微控制器用於存儲所述複數插槽的複數種組合方式，並對每種組合方式編序列號，所述微控制器根據所述序列號的順序，用於依次通過所述控制引腳向所述至少一開關晶片輸入控制指令，以依次控制當前序列號對應的插槽組合方式中的插槽與所述CPU連通，其他的插槽與所述CPU斷開；所述測試模組用於判斷每種插槽組合方式中，所述CPU是否能控制與所述CPU電連接的記憶體在正確的工作模式下工作，並輸出測試結果。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置，其中，所述電腦主機板測試裝置還包括一報警模組，所述報警模組用於接收所述測試模組的測試結果，並在所述測試模組判斷所述CPU不能正常工作時，進行報警。
    [3] 如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置，其中，所述記憶體的數量等於所述插槽的數量。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置，其中，所述微控制器還用於在當前序列號對應的插槽組合方式中的該插槽與所述CPU連通，該其他的插槽與所述CPU斷開之後，控制所述電腦主機板關機，然後重新啟動。
    [5] 如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置，其中，所述開關晶片為BMC晶片。
    [6] 如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置，其中，所述插槽的複數種組合方式包括將每個記憶體通道內的插槽與其他記憶體通道內的插槽分別進行組合，並將每個記憶體通道的複數插槽進行分別組合。
    [7] 一種使用如申請專利範圍第1項所述的電腦主機板測試裝置的電腦主機板測試方法，其包括如下步驟：提供一電腦主機板，所述電腦主機板包括複數記憶體通道及一CPU，每個記憶體通道包括複數用於插設記憶體的插槽，所述CPU用於控制所述複數插槽內的記憶體在正確的工作模式下工作；所述微控制器將所述複數插槽進行組合，以獲得複數種插槽的組合方式，並給每種組合方式編序列號；在每個插槽內均插入一記憶體；所述微控制器按照該序列號的順序輸出訊號給所述至少一開關晶片，以依照該序列號對應的插槽的組合方式，控制所述複數插槽與所述CPU的通斷，所述測試模組判斷插槽的每種組合方式時，所述CPU能否控制與所述CPU電連接的記憶體在正確的工作模式下工作；若是，則判斷所述電腦主機板為良品；若其中有一種插槽的組合方式中，所述CPU不能控制與所述CPU電連接的記憶體在正確的工作模式下工作，則判斷所述電腦主機板為不良品。
    [8] 如申請專利範圍第7項所述的電腦主機板測試方法，其中，在測試每種插槽的組合方式時，所述CPU能否正常工作的步驟還包括如下子步驟：在對某一種插槽的組合方式進行測試時，所述微控制器根據預先編排好的插槽的組合方式控制所述至少一開關晶片將該組合方式中包括的插槽與所述CPU連接，並將該組合方式中不包括的插槽與所述CPU斷開；將電腦主機板關機，然後重新啟動；所述測試模組測試所述CPU傳遞給所述至少一開關晶片的訊號，以判斷所述CPU是否能正常工作；若是，則進行下一插槽的組合方式的測試，直至對所有插槽的組合方式都完成測試，若否，則判斷所述電腦主機板為不良品，測試終止。
    [9] 如申請專利範圍第7項所述的電腦主機板測試方法，其中，所述將所述複數插槽進行組合包括將每個記憶體通道內的插槽與其他記憶體通道內的插槽分別進行組合，並將每個記憶體通道的複數插槽進行分別組合。
    [10] 如申請專利範圍第7項所述的電腦主機板測試方法，其中，所述電腦主機板測試裝置還包括一報警模組，最後一步驟中還包括如下子步驟：當測試出所述電腦主機板為不良品時，所述測試模組發出一不良品的訊號給所述報警模組，所述報警模組進行報警。
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